太阳能光伏组件的可靠性测试结果有哪些

光伏组件常见的问题有：热斑、隐裂和功率衰减。

由于这些质量问题隐藏在电池板内部，或光伏电站运营一段时间后才发生，在电池板进场验收时难以识别，需借助专业设备进行检测。

热斑形成原因及检测方法

光伏组件热斑是指组件在阳光照射下，由于部分电池片受到遮挡无法工作，使得被遮盖的部分升温远远大于未被遮盖部分，致使温度过高出现烧坏的暗斑。

光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构成，即内阻和电池片自身暗电流。

热斑耐久试验是为确定太阳电池组件承受热斑加热效应能力的检测试验。通过合理的时间和过程对太阳电池组件进行检测，用以表明太阳电池能够在规定的条件下长期使用。

热斑检测可采用红外线热像仪进行检测，红外线热像仪可利用热成像技术，以可见热图显示被测目标温度及其分布。

隐裂形成原因及检测方法

隐裂是指电池片中出现细小裂纹，电池片的隐裂会加速电池片功率衰减，影响组件的正常使用寿命，同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能导致开路性破坏，隐裂还可能会导致热斑效应。 隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的，组件受力不均匀，或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。

光伏组件在出厂前会进行 EL 成像检测，所使用的仪器为 EL 检测仪。

该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的 CCD 相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。

EL 检测仪能够检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。

功率衰减分类及检测方法

光伏组件功率衰减是指随着光照时间的增长，组件输出功率逐渐下降的现象。光伏组件的功率衰减现象大致可分为三类：

第一类，由于破坏性因素导致的组件功率衰减；

第二类，组件初始的光致衰减；

第三类，组件的老化衰减。

其中，第一类是在光伏组件安装过程中可控制的衰减，如加强光伏组件卸车、倒运、安装质量控制可降低组件电池片隐裂、碎裂出现的概率等。

第二类、第三类是光伏组件生产过程中亟需解决的工艺问题。光伏组件功率衰减测试可通过光伏组件 I-V 特性曲线测试仪完成。

看要电站现场测试还是实验室内的组件检测，我们跟第三方打交道比较多，目前主流的第三方也是用的我们的光伏检测仪器，比较权威的是南德，莱茵，中认，中检，国内的有英格尔 挪亚，剩下的还有SGS 德凯等

一个是节约能源，另外就是开发新的替代能源，而太阳能就是新型的不可缺少的一种能源，近年来，太阳能发电技术在全球范围内得到快速发展，开发利用太阳能已经成为世界各国的共识，而我国更是太阳能组件的制造大国，同时也是应用大国，太阳能光伏组件的质量问题也成了人们最关心的问题之一。

如何判别组件的好坏呢？单凭肉眼是很难发现组件内部所存在的问题的，必须借助各种各样的仪器才能判别太阳能组件的电气性能和结构安全性能是否满足要求，而EL检测又是其中比较重要的检测形式。

组件EL测试是利用电致发光原理对组件内部缺陷进行检测的项目，就像人需要拍摄“X光线”才能看轻身体内部健康情况一样，光伏组件需要EL测试才能清晰看到内部是否存在缺陷问题。

组件EL测试分为三种主要形式，分别为工厂EL测试，光伏实验室检测，室外便携式EL测试几种形式，原理相同，只是形式和目的不同。

组件EL测试可以使用便携式EL测试仪，操作方便，组件生产与运输安装中的每个关键环节都必须测试EL，保证组件内部完好才会进入下一个环节，可以说这个测试是检测组件质量的一个重要手段，而电站建设的各个环节也会进行EL测试，明确责任，保证施工质量的重要手段。

测试过程中给组件外加正向偏置电压，电源向组件内部注入大量非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子；再利用CCD相机捕捉到这些光子，利用计算机进行处理后显示出来，由于相机镜头对光十分敏感和组件发出的光很弱，避免环境光线对测试结果的影响，整个过程应该在弱光或者无光的环境中进行。

EL图像的亮度正比于电池片的少子扩散长度与电流密度，组件电池片有缺陷的地方，少子扩散长度较低，所以显示出来的图像亮度较暗。因此通过EL图像，可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷、工艺污染、裂纹等问题。

光伏行业属于新兴的行业，因此很多市场规范并不完善，所以组件质量参差不齐，对光伏电站发电量造成很大的影响，大致有以下三方面原因：

第一，组件工厂生产技术水平不一，导致市场上有很多劣质组件，这些组件外表和正常组件差距不大，但是发电效率和使用寿命就会有很大差距，这些问题在运行中就会彻底爆发出来。

第二，光伏组件电池片十分脆，稍微不注意就会产生隐裂甚至碎片，所以即使大厂家的组件在运输过程中也会产生隐裂问题，而由于组件串联连接，根据电流的木桶效应，小的隐裂同样会对整个方阵的发电效率造成影响。

第三，随着15000V系统技术的成熟，组串串连的组件越来越多，所以隐裂问题对方阵的影响也越加明显，不仅本身发电量地还会拉低正常组件的发电量。

所以在组件从生产到安装甚至是运维阶段，都会进行EL测试，及时发现组件内部缺陷问题，特别严重隐裂甚至碎片的组件，及时更换组件，清除这些害群之马，提升组件的发电量。

双85试验是指在85℃/85%RH的条件下老化产品后，对比产品老化前后的性能变化，比如灯具的光电性能参数、材料的力学性能、黄变指数等，差值越小越好，从而测试产品的耐热耐湿性能。

做的时间要根据产品行业订。如做通讯模块行业的标准是2000小时。

双85测试是主要用于光伏行业，及太阳能行业的必备测试设备，用于测试光伏组件，主要是单晶硅组件，地面用晶体硅光伏组件，地面用薄膜光伏组件等一系列的光伏组件进行试验可以再现环境所产生的破坏。

扩展资料：

在LED照明行业，很多厂家已经将双85试验结果作为评判灯具质量好坏的一个重要手段。金鉴实验室总结，LED灯具无法通过双85测试的各种可能原因有：

1.灯具电源：外壳耐热差、电路存在短路危险、保护机制失效等；

2.灯具结构：散热体设计不合理、安装出现问题、用料不耐高温；

3.灯具光源：防潮性能差、封装胶老化、耐高温的性能差。

如遇到特别的使用环境，比如工作环境温度严峻，则需要测试其耐高低温性能，其测试方法可参考高低温测试项目。

参考资料来源：百度百科－双85测试试验箱