用数字万用表测量电容没有任何显示是不是坏的

高压陶瓷电容器，就是使用在电力系统中的高压陶瓷电容器，一般像电力系统的计量，储能，分压等产品中，都会用到它
高压陶瓷电容是用高介电常数的电容器陶瓷〈钛酸钡一氧化钛〉挤压成圆管、圆片或圆盘作为介质，并用烧渗法将银镀在陶瓷上作为电极制成的
高压陶瓷电容器出厂前都是要经过测试的，今天我们就一起来探讨一下高压电容器有那些测试项目，这些项目又是如何测量的
高压陶瓷电容器出厂前进行的测试是为了更好地检验它是否合格，是否符合客户的要求，是否能保障使用的寿命
高压陶瓷电容的主要测试项目有以下七项：1、串联电阻测试，绝缘电阻测试
2、耐压实验，包括额定工作电压24小时工作测试；也包括击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压（标定电压的二倍高压下不击穿）
3、拉力测试，即引线与芯片焊接的牢固度
4、老化测试，高压陶瓷电容在模拟工作环境状态下运作30~60天，测试其衰减其各项参数的变化
5、正负温变化率测试，即-40度到+60度状况下，电容的变化率
6、寿命测试，即在老化测试的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，注意，这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的
7、局放测试，即局部放电测试
以上就是高压陶瓷电容如何测量的方法，如果大家对此还有疑问的话，可以到一些合格生产电容的厂家去观察他们是如何测量高压陶瓷电容的

100uF的点容一般都是电解电容，它的误差范围往往超过20%。因此用100uF档量100uF的电容，经常是过量程。用200nF档量，更是明显超过量程范围。
建议你，先测出一个小一些的电容，例如22uF，然后和100uF的电容串联，用100uF档测出他们串联的容量，然后根据电容串并联的公式算出待测电容的容量。

为什么这么说？
小电容充电后，两极板（引线）之间自然会有电压。既然有电压，自然是可以测量的。
你测量不出来，只能说你测量的方法不对。
例如：一个68pF的电容，用6V电压充电之后，电容带电量
Q=CU=0000000000068Fx6V=0000000000408C（库仑），这个电荷量太小了。
如果用普通万用表的10V直流档测量，因为大多数万用表直流档的灵敏度都是20kΩ/V，因此这个档位的内阻为200kΩ，它和68pF电容构成的RC电路充放电时间常数
τ=RC=0000000000068Fx200000Ω=00000136s（秒），这个时间太短了！
我们知道，当放电时间达到5倍时间常数时，电容器的电荷几乎就全部放完。当你用10V挡测量这个68pF电容的6V电压时，电容通过电压表内阻放电，经过5x00000136s=0000068s=68μs（微妙），电荷就放光了。
请问，在68微秒的时间内，你的万用表指针会出现明显的偏转吗？估计连轻微抖动都不会出现吧。。。。。。
这下，你知道答案了吧？
要想测量，必须用内阻极高的电压表测量才行，但这样的电压表几乎是不存在的。因为即使内阻增大1000倍达到200MΩ，时间常数也才68ms（毫秒）即0068秒，表的指针终于能轻微抖动了一点点？
其实，只要电容容量正常，在电路中能正常工作即可。

高压瓷片电容e472m2kv怎样测量好坏

需要看具体的电路需要，不同标准有不同的要求。

高压瓷片电容e472m2kv影响因素：

规格参数（额定值，电容容值）

脚距长度

工资温度

误差多少是否达标

采用的是什么材质

漏电流多少是否合符该电路

高压瓷片电容e472m2kv测量方法：

电流表测试电压及漏电流

老化设备测试高压陶瓷电容参数

解刨高压陶瓷电容看芯片及电容脚材质

一般这些实验步骤比较复杂 需要厂家或者第3方测试有可靠性试验报告

因为应用于电子电路中建议选择好一点的，在使用中，或许有很多厂家不达标，做品牌的就一定要控制好这个用户体验感，这是必备的。定制的话，也要找好找对一个上游，工艺水准的角度来看，智旭电子可以考虑，建议百度了解下他们。

瓷片电容和压敏电阻除标注不同外，它们外形一样是二个引线的片状瓜子片。区别一要看标注型号，如模糊不清，要用万用表来测量判断，把万用表量程拨到欧姆档，选1K挡量程，用红测表笔，和黑表笔测爪子片两个引脚如万用表指示针指向阻值无穷大，等一下时间，万用表指示针又缓慢地回到刻度原点，这是电容充放电现象，这就是瓷片电容，如果用万用表，红，表笔，黑表笔测爪子片，（万用表量程拨到欧姆挡）这时万用表指示针用刻度指示，说明有阻值，这是对被测爪子片用舌头添一下（或用冰水）这时万用表针示针电阻值有变化，这就是压敏电阻莱垍头条

检测方法

1、检测10pF以下的小电容——因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。

测量时，可选用万用表10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值（指针向右摆动）为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。

2、检测10PF～0 01μF固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。

可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。

3、对于0 01μF以上的固定电容，可用万用表的10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。

4、应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。

扩展资料

瓷片电容分高频瓷介和低频瓷介两种。具有小的正电容温度系数的电容器，用于高稳定振荡回路中，作为回路电容器及垫整电容器。

低频瓷介电容器限于在工作频率较低的回路中作旁路或隔直流用，或对稳定性和损耗要求不高的场合〈包括高频在内〉。这种电容器不宜使用在脉冲电路中，因为它们易于被脉冲电压击穿。

1MLCC(1类)—微型化，高频化，超低损耗，低ESR，高稳定，高耐压，高绝缘，高可靠，无极性，低容值，低成本，耐高温，主要应用于高频电路中。

2MLCC(2类)—微型化，高比容，中高压，无极性，高可靠，耐高温，低ESR，低成本，主要应用于中,低频电路中作隔直，耦合，旁路和滤波等电容器使用。

参考资料来源：百度百科- 瓷片电容

参考资料来源：中国电工考试网-用数字万用表测电容好坏