陶瓷电容的介电常数及介质有损耗吗

P4，P8分别是压电陶瓷材料的一种体系，不同体系的材料介电常数，损耗，机械品质因子等压电性能有所区别，应用场景也不同。比如P4的多用于清洗换能器，P8的料多用于焊接换能器等。详细的参数你可以看看一些国内做压电陶瓷的公司网站，一般都会有材料性能附在上面。

影响天线特性的因素主要包括陶瓷片、银层、放大电路。

1、陶瓷片。

陶瓷粉末的好坏以及烧结工艺直接影响它的性能。现市面使用的陶瓷片主要是25×25、18×18、15×15、12×12。陶瓷片面积越大，介电常数越大，其共振频率越高，接受效果越好。陶瓷片大多是正方形设计，是为了保证在XY方向上共振基本一致，从而达到均匀收星的效果。

2、银层。

陶瓷天线表面银层可以影响天线共振频率。理想的GPS陶瓷片频点准确落在157542MHz，但天线频点非常容易受到周边环境影响，特别是装配在整机内，必须通过调整银面涂层外形，来调节频点重新保持在157542MHz。因此GPS整机厂家在采购天线时一定要配合天线厂家，提供整机样品进行测试。

3、放大电路。

承载陶瓷天线的PCB形状及面积。由于GPS有触地反弹的特性，当背景是7cm×7cm无间断大地时，patch天线的效能可以发挥到极致。虽然受外观结构等因素制约，但尽量保持相当的面积且形状均匀。放大电路增益的选择必须配合后端LNA增益。Sirf的GSC3F要求信号输入前总增益不得超过29dB，否则信号过饱和会产生自激。

压电性能和介电性能这是两个完全不同的应用概念。
只有他们的介质都是陶瓷片，这个是共通的，外形也基本相同，两个极板夹着中间陶瓷介质。
压电特性是压电陶瓷片机械能转换成电压的能力，转换效率越高，输出电压越高。
介电性能，是个陶瓷的常数参数，是指压电陶瓷片作为电容器，电容量的能力

1首先，Agilent E4990A可以测量材料的电容C、介电损耗D，电感L、电阻R等参数值。
2如果需要测陶瓷材料的介电常数和介电损耗，只需在仪器上设置电容C和介电损耗D值两个参数，之后再通过样品的尺寸信息（样品厚度、样品直径）计算介电常数值。
3如果需要测陶瓷材料的高温介电常数和介电损耗，则需要配合高温测试平台、高温介电夹具、以及高温介电温谱测量系统软件来完成测量任务，也就是一整套高温介电温谱测量系统来完成实验。
4三琦高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。
5高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。最后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的三琦高温介电温谱测量系统。