陶瓷电容

MLCC（Multi-layer Ceramic Capacitors）是片式多层陶瓷电容器英文缩写。是由印好电极（内电极）的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来，经过一次性高温烧结形成陶瓷晶片，再在晶片的两端封上金属层（外电极），从而形成一个类似独石的结构体，故也叫独石电容器。

原理,分类,选型, MLCC是片式多层陶瓷电容器英文缩写(Multi-layer ceramic capacitors) 原理 结构原理 由印好电极（内电极）的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来，经过一次性高温烧结形成陶瓷晶片，再在晶片的两端封上金属层（外电极），以实现所需的电容值及其他参数特性。 分类 按照温度特性、材质、生产工艺。MLCC可以分成如下几种：NP0、C0G、Y5V、Z5U、X7R、X5R等。NP0、C0G温度特性平稳、容值小、价格高；Y5V、Z5U温度特性大、容值大、价格低；X7R、X5R则介于以上两种之间。 按材料SIZE大小来分。大致可以分为 3225、3216、2012、1608、1005、0603、0402 数值越大。SIZE就更宽更厚。目前常用的最多为3225最小为0402。 目前在便携产品中广泛套用的片式多层陶瓷电容器(MLCC)材料根据温度特性，主要可分为两大类：BME化的C0G产品和LOW ESR选材的X7R(X5R)产品。 C0G类MLCC的容量多在1000pF以下，该类电容器低功耗涉及的主要性能指标是损耗角正切值tanδ(DF)。传统的贵金属电极(NME)的C0G产品DF值范围是(20～80)×10-4，而技术创新型碱金属电极(BME)的C0G产品DF值范围为(10～25)×10-4，约是前者的(31～50)%。该类产品在载有T/R模组电路的GSM、CDMA、无绳电话、蓝牙、GPS系统中低功耗特性较为显著。 X7R(X5R)类MLCC的容量主要集中在1000pF以上，该类电容器低功耗主要涉及的性能指标是等效串联电阻(ESR)。 选型 容选形时需要考虑的因素很多，以下探讨了MLCC的 电容 选形要素。 1 MLCC 选型：仅仅满足参数还远远不够 购买商品的一般决策逻辑是：能不能用，好不好用，耐不耐用，价格。其实这个逻辑也可以套用到 MLCC 的选型过程中：首先MLCC参数要满足电路要求，其次就是参数与介质是否能让系统工作在最佳状态;再次，来料MLCC是否存在不良品，可靠性如何;最后，价格是否有优势，供应商配合是否及时。许多设计工程师不重视无源元件，以为仅靠理论计算出参数就行，其实，MLCC的 选型 是个复杂的过程，并不是简单的满足参数就可以的。 2选型要素 -参数：电容值、容差、耐压、使用温度、尺寸 -材质 -直流偏置效应 -失效 -价格与供货 3不同介质性能决定了 MLCC 不同的套用 -C0G电容器具有高温度补偿特性，适合作旁路电容和耦合电容 -X7R电容器是温度稳定型陶瓷电容器，适合要求不高的工业套用 -Z5U电容器特点是小尺寸和低成本，尤其适合套用于去耦电路 -Y5V电容器温度特性最差，但容量大，可取代低容铝电解电容 MLCC常用的有C0G(NP0)、X7R、Z5U、Y5V等不同的介质规格，不同的规格有不同的特点和用途。C0G、X7R、Z5U和Y5V的主要区别是它们的填充介质不同。在相同的体积下由于填充介质不同所组成的电容器的容量就不同，随之带来的电容器的介质损耗、容量稳定性等也就不同，所以在使用电容器时应根据电容器在电路中作用不同来选用不同的电容器。

是的。
根据三星官方信息查询得知，三星贴片电容是三星集团旗下三星电子生产的，产地为韩国，目前国内生产都是代加工。
三星贴片电容我们又称它为多层陶瓷片式电容，在电路上可以充电并消除Noise的一种类型Capacitor，采用了介电质层和内电极层相互交叉的叠层结构。相信大家对这个品牌并不陌生，大家用过的三星手机也是三星集团旗下的。

测试贴片电容是需要辅助仪器设备的，一个是电桥（10UF以上容量的需要把频率调到125HZ，以下的调到1KHZ），二个是耐压测试仪（需调成直流DC电压）。不同耐压的贴片电容需根据厂家提供的最高电压来进行测试。耐压测试之后，用电桥来检测电容的容量值和DF值的变化，得出贴片电容是否合格的结论。贴片电容测试方法的PDF文件可以加回答者的QQ索取！

造成贴片电容漏电的原因有哪些
陶瓷贴片电容MLCC，正常情况下应是高绝缘的，绝缘值高达1．0E＋9欧姆．多种因素会导致MLCC的绝缘下降造成漏电现象．
（1） 表面脏污引起的表面绝缘下降，这类漏电电流不十分大，一般是微安级别．热风吹一吹绝缘值会上升．
（2） 内部裂纹，有焊接引起的裂纹和MLCC制造不良自带裂纹．这类裂纹引起的漏电电流会不断升高，严重时会引起局部爆炸起火．

本发明涉及剔除陶瓷电容器产品的低绝缘电阻值的不合格产品用的筛选方法。
陶瓷电容器制造工艺中，在最后一道工序，要测试绝缘电阻值，筛选掉低电阻值的产品，以剔除在制造中由于电容器元件的缺陷(气孔，分层，开裂等)而形成的不合格产品。
通常，为了提供上述筛选的准确性，采取了这些方法，如增大测试电压，颠倒测试中的极性，增长测试时间等。
图1是无缺陷的单片陶瓷电容器和另一个由于某些缺陷使其具有低绝缘电阻值的单片陶瓷电容器的电阻值与时间的特性曲线图(以下称为充电特性)。
无缺陷陶瓷电容器的充电特性显示了电阻值沿曲线A随时间延长的变化。
更具体地说，电阻值随时间成比例线性增长，直至完成充电。当充电进入尾声时，电阻值饱和，达到作为绝缘体的电介质的电阻值。
反之，有缺陷的不合格的陶瓷电容器的充电特性通常画成曲线(B)，因为降低了电介质的饱和值。如上所述，由于缺陷而使绝缘电阻值减小。
而且，就陶瓷电容器的筛选而言，当测试在较长持续时间下进行并在紧靠饱和值的点上测试电阻值时，在合格产品与不合格产品之间挑选变得更容易。
实际情况下，当陶瓷电容器的元件缺陷部分之间包括形成的小电流路径时，在某些情况下，在充电时间中陶瓷电容器会局部熔化，因此，电阻值重新减小，如曲线(C)所示，或相反，随着时间因性能变坏而产生电阻值的衰减，如曲线(D)所示。
另一种情况下，路径本身具有半导体式的性能，因而，电阻值可随电流通过时产生的热而变化。
因而，不再认为总是优选较长的持续时间作为能最容易选出由缺陷部分特征造成的不合格产品的持续时间(该持续时间引起无缺陷产品与有缺陷的不合格产品之间的最大电阻差)。这样造成的问题是，不能从产品中可靠地剔除不合格产品。
因而，本发明的目的是提供一种陶瓷电容器的筛选方法，以提高具有各种电阻值特性的有缺陷的不合格产品的筛选准确度，以防止不合格产品混入成品中。
为实现上述目的，本发明提供了一种陶瓷电容器的筛选方法，包括给陶瓷电容器加电压的持续时间为两种以上的不同持续时间，测试电容器的绝缘电阻值。
在陶瓷电容器的筛选中，用长时间加电压，在较靠近饱和值的点测试电阻值，有可能除去低饱和值的一般缺陷的不合格产品。
而且，用缩短了的加压时间测试，也能用达到饱合值的时间，除去具有各种电阻值特性的有缺陷的不合格产品。用不同的电压持续时间对电阻值进行的这种测试，可消除有缺陷的不合格产品的筛选中的任何遗漏，因而，可提高挑选准确度。
图1是展示陶瓷电容器中加压时间与电阻值之间的关系的特性曲线图。
图2是不同持续时间测得的电阻值的曲线图。
以下说明本发明的一个实施例。
本发明提供一种制造单片陶瓷电容器的最后一道工艺步骤中筛选不合格产品的方法。该方法包括给陶瓷电容器依次用两种以上的不同持续时间加电压的步骤，由此，在每个加压持续时间内测试绝缘电阻，以剔除选择工艺中由于元件的任何缺陷而造成的任何不合格产品。
用上述的不同加压持续时间的两倍以上的加压时间进行绝缘电阻的这种测试，由于延长的加压时间，在较靠近饱和值的点测试电阻值，因此，可完成剔除因一般缺陷造成的不合格产品的工作。
而且，当用缩短的加压时间测试绝缘电阻时，有可能剔除有缺陷的，有电阻值变化直至达到饱和值为止的特性的不合格产品。
筛选工艺中，给单片陶瓷电容器加电压，以测试其绝缘电阻值，加压时间引起无缺陷产品与不合格产品之间的最大电阻值差，因而，在它们之间最容易地选择不一定要上述的长的持续时间。因而，用两种以上的不同持续时间加压测试电阻值，可以改善有缺陷的不合格产品的筛选准确度。
而且，如图2所示，不合格产品的电阻值是固定不变的。例如，用2秒钟测试有缺陷的不合格产品1和2时，有缺陷的不合格产品2的电阻值低于无缺陷的合格产品的电阻值，因而，能容易地立即找出有缺陷的不合格产品2是不合格的。另一方面，由于有缺陷的不合格产品1的电阻值与无缺陷产品的电阻值的差很小，因而，不容易发现有缺陷的不合格产品1是不合格的。然而，假若用32秒钟测试有缺陷的不合格产品1，由于发现有缺陷的不合格产品1的电阻值与无缺陷的产品的电阻值大大不同，因而，能找出有缺陷的不合格产品1是不合格的。
如上所述，保证可以用两种以上的不同持续时间测试电阻值，来找出无缺陷产品与不合格产品。
而且，图2中，用32秒钟的时间测试产品的电阻值，似乎可以发现两种产品是不合格的。然而，有缺陷的不合格产品2碰巧总体上表现出低电阻值，而且，与本例不同的情况下，电阻值会随时间的延续而恢复。因而，不能简单地认为较长的持续时间会出现较好的结果。适当地采用短的持续时间和长的持续时间能获得更高的效率。
此外，可根据陶瓷电容器的电容量和类型任意选择筛选用的加压大小，加压时间和加压次数。
如上所述，按本发明，给陶瓷电容器用两种以上的不同持续时间加电压，测试其绝缘电阻值。因而，使具有缺陷的有各种电阻值特性的不合格产品的筛选准确度提高到相当大的程度，从而能可靠地剔除不合格产品。结果，降低了陶瓷电容器使用中发生故障的比例。
权利要求
1一种陶瓷电容器的筛选方法，包括对陶瓷电容器用两种以上的不同持续时间加电压，测试其绝缘电阻值的步骤。
全文摘要
本发明提供了一种准确剔除陶瓷电容器的不合格产品的筛选方法，对陶瓷电容器用两种以上的不同持续时间加电压，测试其绝缘电阻值，由此剔除具有不同电阻值特性的有缺陷的不合格产品。因此提高了陶瓷电容器的筛选准确度。
文档编号H01G4/12GK1128399SQ9510855
公开日1996年8月7日 申请日期1995年6月14日 优先权日1994年6月14日
发明者川口庆雄 申请人:株式会社村田制作所

根据提供的信息，Z丫CEE28472J1250是一种电容器的型号。其包括以下信息：Z丫（品牌）、CEE（系列型号）、28472（电容器的电气参数）和J1250（封装类型和容量等级）。
具体来说，Z丫CEE28472J1250是一种多层陶瓷片式电容器，其电容值为047μF，电压容限为630V，J1250表示该电容器为0603封装，额定工作温度范围为-55°C至+125°C。这种电容器广泛应用于电子电路的滤波、去耦合和隔离等方面。
需要注意的是，电子元器件型号比较多，都有各自不同的规格参数，应用领域也不相同，具体型号的应用范围需要视具体情况而定。如果您需要使用这种电容器，请务必查看所用设备的相关规格参数，以确保正确选用。