瓷片电容的测量方法有哪些

检测方法

1、检测10pF以下的小电容——因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。

测量时，可选用万用表10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值（指针向右摆动）为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。

2、检测10PF～0 01μF固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。

可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。

3、对于0 01μF以上的固定电容，可用万用表的10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。

4、应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。

扩展资料

瓷片电容分高频瓷介和低频瓷介两种。具有小的正电容温度系数的电容器，用于高稳定振荡回路中，作为回路电容器及垫整电容器。

低频瓷介电容器限于在工作频率较低的回路中作旁路或隔直流用，或对稳定性和损耗要求不高的场合〈包括高频在内〉。这种电容器不宜使用在脉冲电路中，因为它们易于被脉冲电压击穿。

1.MLCC(1类)—微型化，高频化，超低损耗，低ESR，高稳定，高耐压，高绝缘，高可靠，无极性，低容值，低成本，耐高温，主要应用于高频电路中。

2.MLCC(2类)—微型化，高比容，中高压，无极性，高可靠，耐高温，低ESR，低成本，主要应用于中,低频电路中作隔直，耦合，旁路和滤波等电容器使用。

参考资料来源：百度百科- 瓷片电容

参考资料来源：中国电工考试网-用数字万用表测电容好坏

用数字万用表的电容挡就可以测出，实际容值与标称相符的不漏电，一般用机械表比较好,放在RX10K挡,用表笔分别测电容两脚如是好电容表针摆以下后回到原位.电容容量越大表针摆动越大.如是电容漏电表针摆以下后回不到原位.如电表针不摆动是电容开路.以上适用与小瓷片电容.如电解电容放在RXI00当较好.

数字万用表（无电容档）没法测量电容器的准确容量，但是可以用数字万用表的测二极管（或者测通断档，大多数表是一个档）来测量电容的好坏，不通说明电容器没有击穿。然后两表笔正反向测电容器的两脚，会听到蜂鸣器的叫声，有叫声说明电容可以充放电，说明电容器有容量，正方向充电，过一会再反方向放电，听到的叫声长短与立即反方向放电一样，说明电容不漏电。2A104J的电容0.1μF的充放电应该能够有轻微短促的叫声。这样做可以基本判别电容器的好坏，供你参考，不妨试一试。

将万用表拨到R×l0k挡，不必进行欧姆调零，插上制作的HFE测试座，并在座上NPN或PNP的一侧插一只完好的放大倍数较大的90系列三极管，要求硅管、漏电小。然后将被测小容量瓷片电容器放电后插入相应的NPN或PNP的一侧带Cx的插座内，同时观察万用表指针的偏转情况，若指针向右偏转一定角度后又返回无穷大处，且指针偏转的最大幅度与电容器的容量相对应（多做几次、凭经验），则说明电容器质量是好的；若指针向右偏转一定角度后不能返回无穷大处，而是停留在中间某处，甚至是0欧姆处，则说明电容器漏电：若指针一点都不偏转，则表明电容器断路或容量降为0。

用该方法判别小容量瓷片电容器的质量好坏，可将判别的下限降到10pF左右，而直接用万用表的R×10k挡判别，最多只能判别到5000pF。这样就可以做到不用数字万用表也能判别小容量瓷片电容器的好坏。

当万用表的读数大于0.531兆欧时，可称为漏电。由于电容器之间电介质的有限绝缘，电阻不是无穷大，而是有相应的值，并且更精确。电介质具有一定的导电性，当向其施加DC电压时，会产生漏电流。如果漏电流太大，电容会发热损坏。泄漏有两个原因:1.有的电器是电路板本身有问题(电路板的低压电路并没有和220V交流电隔离，而是自带市电)，使用开关电源的电器就是这种情况。比如一些老彩电，人碰到天线会有麻木的感觉，这是天线和电路板连接处漏电造成的。但是这种电对人来说并不是很危险，因为电路板和市电之间有一个阻值很大的电阻，产生的电流很小。2.即使电器本身的电路板没有问题，也会因为某些元器件(尤其是电容)漏电，或者电路板上湿气灰尘太多而漏电。比如有些电器外壳刚开始不充电，使用一段时间后又充电，这种情况居多。

通过测量SMT电容的电阻可以判断短路或漏电故障，但前提是必须将SMT电容从电路板上取出。

SMT电容的电阻通常很大，很难用万用表的电阻范围来测量。如果电阻值非常小，例如在几百欧姆以内，这是短路故障；如果电阻值在几万到兆欧之间，则为漏电故障，当SMT电容器短路和泄漏时，失去了电容特性，必须更换。

扩展资料：

注意事项：

SMT电容器一般采用层压结构，如果电容两端加的电压超过电容的承受电压，就很容易使介质发生故障，发生短路，要测量电容是否短路，最好将其焊接下来测量。

因为有些电路与电容并联的电阻值很低，不要看短路情况。由于我在电能计量装置中测试ABC三相采样电路的SMT陶瓷电容，怀疑短路立即测量了另外两个电路，结果相同。

仔细一看，不是零欧姆。线性搜索结果表明，这三个采样电路的电容分别与一个数十欧姆的电阻并联，并焊接电容进行正常测量。

用数字万用表的电容挡就可以测出，实际容值与标称相符的不漏电，一般用机械表比较好,放在RX10K挡,用表笔分别测电容两脚如是好电容表针摆以下后回到原位.电容容量越大表针摆动越大.如是电容漏电表针摆以下后回不到原位.如电表针不摆动是电容开路.以上适用与小瓷片电容.如电解电容放在RXI00当较好.

高压陶瓷电容器，就是使用在电力系统中的高压陶瓷电容器，一般像电力系统的计量，储能，分压等产品中，都会用到它

高压陶瓷电容是用高介电常数的电容器陶瓷〈钛酸钡一氧化钛〉挤压成圆管、圆片或圆盘作为介质，并用烧渗法将银镀在陶瓷上作为电极制成的

高压陶瓷电容器出厂前都是要经过测试的，今天我们就一起来探讨一下高压电容器有那些测试项目，这些项目又是如何测量的

高压陶瓷电容器出厂前进行的测试是为了更好地检验它是否合格，是否符合客户的要求，是否能保障使用的寿命

高压陶瓷电容的主要测试项目有以下七项：1、串联电阻测试，绝缘电阻测试

2、耐压实验，包括额定工作电压24小时工作测试；也包括击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压（标定电压的二倍高压下不击穿）

3、拉力测试，即引线与芯片焊接的牢固度

4、老化测试，高压陶瓷电容在模拟工作环境状态下运作30~60天，测试其衰减其各项参数的变化

5、正负温变化率测试，即-40度到+60度状况下，电容的变化率

6、寿命测试，即在老化测试的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，注意，这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的

7、局放测试，即局部放电测试

以上就是高压陶瓷电容如何测量的方法，如果大家对此还有疑问的话，可以到一些合格生产电容的厂家去观察他们是如何测量高压陶瓷电容的

用万用表的乘1k欧姆档分别测量电容器的两端，电容器在一开始会充电，万用表指针偏转很大，但会随着充电电流变小而向后退，好的电容器会一直退回到无穷大。如果不能退回到无穷大，则可根据其退到的读书大小来判断它的漏电情况。如果退回到一定的读数后又开始上升，则这个电容器就一定不能再用了。

要注意的是要用红黑两支表笔分别测量电容器的正、负两端。读数不一样的。