高压瓷片电容坏了不换影响吗
高压瓷片电容坏了有什么后果呢?
首先,排除高压瓷片电容坏了会产生爆炸,不会对使用者人身造成伤害。坏了会有以下几种现象产生:
一:使用产品不通电;
二:使用产品短路;
三:使用产品失效。
如选到质量不好的高压瓷片电容,在长期工作电压下,内部残存的气泡产生局部放电现象。局部放电进一步导致绝缘损伤和老化。温度也会上长,会导致高压瓷片电容损坏,击穿。
电视电源板上的高压瓷片电容是我们常见的,出现坏掉的情况我们如何解决了。近日小编见到小伙伴说自己的液晶电视上高压瓷片电容221K/1KV烧毁,电视没指示灯,好像没电一样。出现这种情况的时候可以更换这个型号的电子元件并且检查下电源管是否有击穿的即可。
那么电源板上的高压瓷片电容坏了,参数为103M/1KV,可以替换和更换吗。
答案是可以的。
选择更换那么需要注意的是:
电容的容量差别在百分之三十到五十之间不会有明显的影响可以换,但耐压值须大于或等于原值。无论选择哪种方法,也要考虑到电源板的实际情况!
规范使用,才会保护产品的寿命。遇到高压瓷片电容坏掉不会处理的情况下,可以寻找正规的高压瓷片电容厂家寻求帮助。在购买的时候,要选择售前售后服务有保障的厂家,确保可以放心使用,避免产生不必要的麻烦。
正常情况下使用高压陶瓷电容是不会发生烧坏现象的,那么在什么状态下高压陶瓷电容会发生烧坏现象呢?
一:潮湿对电参数恶化的影响。空气中温度过高,会使高压陶瓷电容的表面绝缘电阻下降,对于半密封结构电容器来说,水分会渗透到电容器的介质内部使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。因此,高温,高湿环境对瓷片电容的损坏影响较大。
二:银离子的迁移。无机介质电容器多半采用银电极,半密封电容器在高温条件下工作,渗入电容器内部的水分子产生电解。产生氧化反应,银离子与氢氧根离子结合产生氢氧化银。由于电极反应,银离子迁移不仅发生在无机介质表面,还扩散到无机介质内部,引起漏电流增大,严重时会使两个银电极之间完全短路,导致高压陶瓷电容损坏或击穿。
三:有的高压陶瓷电容,在运用测试操作时,电容器投入时的电流过大,无任何无电压保护措施,也无串联电抗器,使电容器过热,绝缘降低或损坏,如果操作频繁,也会影响陶瓷电容损坏,甚至爆炸。
四:从单颗陶瓷电容分析,电容碰到了强大的电流,导致内部材料发热,散热不及时,造成热击穿损坏。
智旭电子高压陶瓷电容外观小巧,精莹剔透,粉涂均匀,还可以为客人需求订制观型尺寸。
如果是并在300V上的,暂时不用也不太影响,至于+B没电压,不一定是它的问题,你应该再查一下。
1、高压瓷片电容在老地方电视机中,多用于行输出级高压高频滤波。其耐压参数是根据电路位置工作电压高低,而设计取值的,不能任意改变;
2、其原电路中器件耐压2KV,容量101K 即100PF;而代换电容 1KV102K,容量为1000PF,容量大10倍。容量不是主要问题,重要的是耐压参数;
3、变通办法,将3个1KV102K电容串后,其耐压达到3KV,容量约为333PF,基本达到要求,可应急替换2KV的电容;
4、因行输出级高压小容量电容,均为高频滤波电容,并不参与行频时间常数调整,故容量要求较宽松,此法不会影响电路的正常工作状态。若不放心,可再多串联几个电容后代换使用。
除因温度冷热变化产生热应力导致开裂外,对于环氧包封型高压陶瓷电容,无论是留边型还是满银型电容都存在着电极边缘电场集中和陶瓷-环氧的结合界面等比较薄弱的环节
环氧包封的瓷片电容由于环氧树脂固化冷却过程体积收缩,产生的内应力以残余应力的形式保留在包封层中,并作用于陶瓷-环氧界面,劣化界面的粘结
在电场作用下,组成高压瓷片电容瓷体的钙钛矿型钛酸锶铁类陶瓷(SPBT)会发生电机械应力,产生电致应变
当环氧包封层的残余应力较大时,二者联合作用极可能造成包封与陶瓷体之间脱壳,产生气隙,从而降低电压水平
二:介质内空洞:导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染、烧结过程控制不当等
空洞的产生极易导致漏电,而漏电又导致器件内局部发热,进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加
该过程循环发生,不断恶化,导致其耐压水平降低
三:包封层环氧材料因素:一般包封层厚度越厚,包封层破坏所需的外力越高
在同样电场力和残余应力的作用下,陶瓷基体和环氧界面的脱粘产生气隙较为困难
另外固化温度的影响,随着固化温度的提高,高压瓷片电容的击穿电压会越高,因为高温固化时可以较快并有效地减少残余应力
随着整体模块灌胶后固化的高温持续,当达到或超过陶瓷电容器外包封层环氧树脂的玻璃转化温度,达到了粘流态,陶瓷基体和环氧界面的脱粘产生了气隙,此时的形变就很难恢复,这种气隙会降低陶瓷电容的耐压水平
四:机械应力裂纹:陶瓷体本身属于脆性较高的材料,在产生和流转过程中较大的应力可能造成应力裂纹,导致耐压降低
常见的应力源有:工艺过程电路板流转操作;流转过程中的人、设备、重力等因素;元件接插操作;电路测试;单板分割;电路板安装;电路板定位铆接;螺丝安装等
导致瓷片电容失效结论一:直接原因:陶瓷-环氧界面存在间隙,导致其耐压水平降低
二:间接原因:二次包封模块固化过程中产生了环氧材料应力收缩,致使陶瓷-环氧界面劣化,形成了弱点放电的路径
三:二次包封模块固化后,样品放置时间过短,其内部界面应力未完全释放出来,在陶瓷-环氧界面存在微裂纹,导致耐压水平降低