军用陶瓷电容筛选方法
本发明涉及剔除陶瓷电容器产品的低绝缘电阻值的不合格产品用的筛选方法。
陶瓷电容器制造工艺中,在最后一道工序,要测试绝缘电阻值,筛选掉低电阻值的产品,以剔除在制造中由于电容器元件的缺陷(气孔,分层,开裂等)而形成的不合格产品。
通常,为了提供上述筛选的准确性,采取了这些方法,如增大测试电压,颠倒测试中的极性,增长测试时间等。
图1是无缺陷的单片陶瓷电容器和另一个由于某些缺陷使其具有低绝缘电阻值的单片陶瓷电容器的电阻值与时间的特性曲线图(以下称为充电特性)。
无缺陷陶瓷电容器的充电特性显示了电阻值沿曲线A随时间延长的变化。
更具体地说,电阻值随时间成比例线性增长,直至完成充电。当充电进入尾声时,电阻值饱和,达到作为绝缘体的电介质的电阻值。
反之,有缺陷的不合格的陶瓷电容器的充电特性通常画成曲线(B),因为降低了电介质的饱和值。如上所述,由于缺陷而使绝缘电阻值减小。
而且,就陶瓷电容器的筛选而言,当测试在较长持续时间下进行并在紧靠饱和值的点上测试电阻值时,在合格产品与不合格产品之间挑选变得更容易。
实际情况下,当陶瓷电容器的元件缺陷部分之间包括形成的小电流路径时,在某些情况下,在充电时间中陶瓷电容器会局部熔化,因此,电阻值重新减小,如曲线(C)所示,或相反,随着时间因性能变坏而产生电阻值的衰减,如曲线(D)所示。
另一种情况下,路径本身具有半导体式的性能,因而,电阻值可随电流通过时产生的热而变化。
因而,不再认为总是优选较长的持续时间作为能最容易选出由缺陷部分特征造成的不合格产品的持续时间(该持续时间引起无缺陷产品与有缺陷的不合格产品之间的最大电阻差)。这样造成的问题是,不能从产品中可靠地剔除不合格产品。
因而,本发明的目的是提供一种陶瓷电容器的筛选方法,以提高具有各种电阻值特性的有缺陷的不合格产品的筛选准确度,以防止不合格产品混入成品中。
为实现上述目的,本发明提供了一种陶瓷电容器的筛选方法,包括给陶瓷电容器加电压的持续时间为两种以上的不同持续时间,测试电容器的绝缘电阻值。
在陶瓷电容器的筛选中,用长时间加电压,在较靠近饱和值的点测试电阻值,有可能除去低饱和值的一般缺陷的不合格产品。
而且,用缩短了的加压时间测试,也能用达到饱合值的时间,除去具有各种电阻值特性的有缺陷的不合格产品。用不同的电压持续时间对电阻值进行的这种测试,可消除有缺陷的不合格产品的筛选中的任何遗漏,因而,可提高挑选准确度。
图1是展示陶瓷电容器中加压时间与电阻值之间的关系的特性曲线图。
图2是不同持续时间测得的电阻值的曲线图。
以下说明本发明的一个实施例。
本发明提供一种制造单片陶瓷电容器的最后一道工艺步骤中筛选不合格产品的方法。该方法包括给陶瓷电容器依次用两种以上的不同持续时间加电压的步骤,由此,在每个加压持续时间内测试绝缘电阻,以剔除选择工艺中由于元件的任何缺陷而造成的任何不合格产品。
用上述的不同加压持续时间的两倍以上的加压时间进行绝缘电阻的这种测试,由于延长的加压时间,在较靠近饱和值的点测试电阻值,因此,可完成剔除因一般缺陷造成的不合格产品的工作。
而且,当用缩短的加压时间测试绝缘电阻时,有可能剔除有缺陷的,有电阻值变化直至达到饱和值为止的特性的不合格产品。
筛选工艺中,给单片陶瓷电容器加电压,以测试其绝缘电阻值,加压时间引起无缺陷产品与不合格产品之间的最大电阻值差,因而,在它们之间最容易地选择不一定要上述的长的持续时间。因而,用两种以上的不同持续时间加压测试电阻值,可以改善有缺陷的不合格产品的筛选准确度。
而且,如图2所示,不合格产品的电阻值是固定不变的。例如,用2秒钟测试有缺陷的不合格产品1和2时,有缺陷的不合格产品2的电阻值低于无缺陷的合格产品的电阻值,因而,能容易地立即找出有缺陷的不合格产品2是不合格的。另一方面,由于有缺陷的不合格产品1的电阻值与无缺陷产品的电阻值的差很小,因而,不容易发现有缺陷的不合格产品1是不合格的。然而,假若用32秒钟测试有缺陷的不合格产品1,由于发现有缺陷的不合格产品1的电阻值与无缺陷的产品的电阻值大大不同,因而,能找出有缺陷的不合格产品1是不合格的。
如上所述,保证可以用两种以上的不同持续时间测试电阻值,来找出无缺陷产品与不合格产品。
而且,图2中,用32秒钟的时间测试产品的电阻值,似乎可以发现两种产品是不合格的。然而,有缺陷的不合格产品2碰巧总体上表现出低电阻值,而且,与本例不同的情况下,电阻值会随时间的延续而恢复。因而,不能简单地认为较长的持续时间会出现较好的结果。适当地采用短的持续时间和长的持续时间能获得更高的效率。
此外,可根据陶瓷电容器的电容量和类型任意选择筛选用的加压大小,加压时间和加压次数。
如上所述,按本发明,给陶瓷电容器用两种以上的不同持续时间加电压,测试其绝缘电阻值。因而,使具有缺陷的有各种电阻值特性的不合格产品的筛选准确度提高到相当大的程度,从而能可靠地剔除不合格产品。结果,降低了陶瓷电容器使用中发生故障的比例。
权利要求
1.一种陶瓷电容器的筛选方法,包括对陶瓷电容器用两种以上的不同持续时间加电压,测试其绝缘电阻值的步骤。
全文摘要
本发明提供了一种准确剔除陶瓷电容器的不合格产品的筛选方法,对陶瓷电容器用两种以上的不同持续时间加电压,测试其绝缘电阻值,由此剔除具有不同电阻值特性的有缺陷的不合格产品。因此提高了陶瓷电容器的筛选准确度。
文档编号H01G4/12GK1128399SQ9510855
公开日1996年8月7日 申请日期1995年6月14日 优先权日1994年6月14日
发明者川口庆雄 申请人:株式会社村田制作所
陶瓷电容规格书主要看你电路的需求而定.
在选用陶瓷电容规格时候需要注意以下几点:
规格参数(额定值,电容容值)是否符合该电路使用
脚距长度多少,需要按照电路板尺寸定制
电路工作温度多少,不同的工作场景温度不一,而采用的材质也不一样
选型后还要看该电容误差多少,是否符合需求
需要什么材质不同的材质不一样的效果
外部影响因素需求
注意在选择陶瓷电容需要谨慎
建议选择好一点的,在使用中,或许有很多厂家不达标,做品牌的就一定要控制好这个用户体验感,这是必备的。定制的话,也要找好找对一个上游,工艺水准的角度来看,智旭电子可以考虑,建议百度了解下他们。
当测量中发现万用表的指针无法达到无穷大的位置时,指针所指的阻值就是该瓷片电容器的漏电电阻
指针距离阻值无穷大的位置越远,说明瓷片电容器漏电越严重
有的电容器在测其漏电电阻时,指针退回无穷大的位置,然后又慢慢的向顺时针方向摆动,摆动的越多说明陶瓷电容的漏电流越严重
瓷片电容的断路测量
瓷片电容的容量范围很宽,用万用表判断电容器的断路情况时,首先要看电容量的大小
对于0.019UF以下的小容量电容器,用万用表不能准确判断其是否断路,只能用其他仪表进行鉴别
对于0.01UF以上的瓷片电容,用万用表测量时,必须根据瓷片电容容量大小,选择合适的量程进行测量,才能正确的给以判断
如测量300UF以上的陶瓷电容,可以选R*10档或者R*1档;如要测10~300UF陶瓷电容时可选用R*100档;如要测0.4710UF的电容可选用R*1K档
按照上述方法选好量程后,便可将万用表的两表笔分别接陶瓷电容的两引脚
测量时,如指针不动,可将两表笔对调后再测,如指针不动,说明瓷片电容断路
用万用表的欧姆档测量瓷片电容的短路
用万用表的两表笔分别接电容器的两引脚,如果指针所指示的阻值很小或者接近为零,而且指针不再退回无穷大的位置,说明瓷片电容已经被击穿短路
需要注意的是在测量容量较大的电容器时,要根据电容量的大小,依照上述介绍的量程选择方法来选择适合的量程,否则可能会把瓷片电容的充电误认为击穿
选择瓷片电容时,产品质量好坏直接关系我们的生活品质及生活安全
请选择原厂正品出产,品质有保证并可安全使用
在回路以及旁路电容器中瓷片电容都是必不可少的,瓷片电容都是由陶瓷材料烧制而成的
虽然材质都是一样的,但在不同电路中所运用的瓷片电容规格也是不一样的
规格一:1000V-6000V高频瓷片电容高频瓷片电容一般主要都是运用于较高稳定振荡的回路中,因此其在稳定性方面要求是比较高的,如比较常见的耦合电容以及高压旁路就会选择用高频瓷片电容
最主要的优点就是可以耐受高温以及耐磨性比较强,如日常生活中常见的电视接收机上就会使用高压瓷片电容
规格二:50V以下低频瓷片电容低频瓷片电容主要是运用在一些工作频率比较低的回路中,在这类型的回路中往往对于电容的稳定性以及损耗的程度要求都不是很高
尤其是在一些脉冲比较强的电路中是不能使用低频瓷片电容的,否则很有可能会被电压直接击穿
二者的差异比较二者不同类型的瓷片电容规格识别可以直接通过电容器或者是电路来进行判断
一般来说可以耐受高压,绝缘性比较好,而且比较可靠,运用于高压电路中的就属于高频瓷片电容
而低频瓷片电容相比较而言可靠性以及成本都比较低,多数时候都是运用于一些低频电路以及耦合电路等的电容器中
快速识别方法一般来说在音频控制器以及分频器上使用的电容都是高频瓷片电容,因为其容量会比较大,通过金属塑料薄膜的使用可以获得更佳的音质
其次就是在滤波电容中,其容量的特性决定了使用电解电容的效果会比较好,但在使用的过程中还要注意抑制高频阻抗不断上升的情况
所以针对瓷片电容规格的识别来说,可以通过判断回路的电压以及特性就可以快速鉴别出其所使用的瓷片电容,同时在进行识别的时候也可以参照电阻的规格识别方法