高压陶瓷电容如何测量好坏?
高压瓷片电容及一般电容器检测的方法1.固定电容器的检测:A检测10pF以下的小电容
因10pF以下的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象
测量时,可选用万用表R×10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为无穷大
若测出阻值(指针向右摆动)为零,则说明电容漏电损坏或内部击穿
B检测10PF~001μF固定电容器是否有充电现象,进而判断其好坏
万用表选用R×1k挡
两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要小
可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管
万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接
由于复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,从而便于观察
应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摆动
C对于001μF以上的固定电容,可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电,并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量
高压瓷片电容e472m2kv怎样测量好坏
需要看具体的电路需要,不同标准有不同的要求。
高压瓷片电容e472m2kv影响因素:
1.
规格参数(额定值,电容容值)
2.
脚距长度
3.
工资温度
4.
误差多少是否达标
5.
采用的是什么材质
6.
漏电流多少是否合符该电路
高压瓷片电容e472m2kv测量方法:
1.
电流表测试电压及漏电流
2.
老化设备测试高压陶瓷电容参数
3.
解刨高压陶瓷电容看芯片及电容脚材质
一般这些实验步骤比较复杂
需要厂家或者第3方测试有可靠性试验报告
因为应用于电子电路中建议选择好一点的,在使用中,或许有很多厂家不达标,做品牌的就一定要控制好这个用户体验感,这是必备的。定制的话,也要找好找对一个上游,工艺水准的角度来看,智旭电子可以考虑,建议百度了解下他们。
测试条件:在频率1KHZ、电压1±0.2Vrms、温度25±2℃下测试
材料分为: 2B4(Y5P) 2E4(Z5U) 2F4(Y5V)
如果排除您产品自身的原因,还可以是您的测试设备的精度不够引起的。
检测方法
1、检测10pF以下的小电容——因10pF以下的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象。
测量时,可选用万用表10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零,则说明电容漏电损坏或内部击穿。
2、检测10PF~001μF固定电容器是否有充电现象,进而判断其好坏。万用表选用1k挡。两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要小。
可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,从而便于观察。
3、对于001μF以上的固定电容,可用万用表的10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电,并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。
4、应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摆动。
扩展资料
瓷片电容分高频瓷介和低频瓷介两种。具有小的正电容温度系数的电容器,用于高稳定振荡回路中,作为回路电容器及垫整电容器。
低频瓷介电容器限于在工作频率较低的回路中作旁路或隔直流用,或对稳定性和损耗要求不高的场合〈包括高频在内〉。这种电容器不宜使用在脉冲电路中,因为它们易于被脉冲电压击穿。
1.MLCC(1类)—微型化,高频化,超低损耗,低ESR,高稳定,高耐压,高绝缘,高可靠,无极性,低容值,低成本,耐高温,主要应用于高频电路中。
2.MLCC(2类)—微型化,高比容,中高压,无极性,高可靠,耐高温,低ESR,低成本,主要应用于中,低频电路中作隔直,耦合,旁路和滤波等电容器使用。
参考资料来源:百度百科-瓷片电容
参考资料来源:中国电工考试网-用数字万用表测电容好坏