(射频电路设计)关于在ADS中仿真和做实际做电路板时候碰到的问题
ADS里面的自动优化肯定不能作为最后的器件参数,得考虑到实际存在的情况,再说ADS里面的自动优化功能,软件计算出来的参数并不是最好的,你可以在它优化好了后再进行仿真,回发现还是不很很理想,都得手工慢慢的调,我以前用的时候自动优化后还得手工调整才能达到理想的参数指标。
你用自动优化是不是想进行网络特性阻抗的匹配?假如是要做特性阻抗匹配的话,最好是先人工计算一下网络的器件组成及各个参数,然后再将计算出的网络在ADS里面进行仿真,这样的话会精确一些。
亲自测试需要的控件是 murata include,该控件是跟随村田库一起倒入ADS中的,就是因为这个控件没有的添加的缘故,整整忙活我了半天的时间,希望有更多的人能够看到后不用走弯路。
首先,我们需要将几个公式了然于心:
平行板电容量
C=εoA/h
A表示平行板面积,h表示平板间距。
圆形导体局部自感
L=5d{ln(2d/r)-3/4}
d为长度,r为半径
A表示平行板面积,h表示平板间距。
频域二阶阻抗公式
Z(w)=R+i(wL-1/wC),w=2πf 频域二阶
w指角频率,i为相位复数,f为频率。
微带线(microstrip)特性阻抗
Z={87/[sqrt(Er+1.41)]}*ln[5.98H/(0.8W+T)]
W为线宽,T为走线的铜皮厚度,H为走线到参考平面的距离,Er是PCB板材质的介电常数(dielectric constant)
带状线(stripline)特性阻抗
Z=[60/sqrt(Er)]*ln{4H/[0.67π(0.8W+T)]}
即与介电常数、铜箔厚度成反比;与介质厚度(与参考层的距离)成正比
综合上面3个公式,可领悟出,铜箔越厚,L越小,Z(w)=R+i(wL-1/wC),故特性阻抗变大;与参考层距离越大,C越大,Z(w)=R+i(wL-1/wC),故特性阻抗越小。
再实际一点,就是信号遇到容性阻抗时,特性阻抗会降低;遇到感性阻抗时,特性阻抗会升高。
S11=Vr/Vi=(Z2-Z1 )/(Z2+Z1)
S12=Vt/Vi=2*Z2/(Z2+Z1) (2)
Vi为反射前端信号电压,Vr为反射电压,Vt为反射后端信号电压,Z1为反射前端阻抗,Z2为反射后端阻抗,Vo为驱动端电压。Vi为传输线电压。
实际一点,就是如果后端阻抗大于输入阻抗,就是形成正反射,信号电压升高,即过冲;就是如果后端阻抗小于输入阻抗,就是形成负反射,信号电压降低,即下冲。我们经常在发送端加22~33Ω匹配串阻,就是因为CMOS输出阻抗很低,只有20~40Ω,需要进行阻抗匹配。
ADS建一个简单的前仿真线路
主要是因为兴趣玩玩,所以在线路上胡乱串联并联了LC,看看能不能调,正常情况下高速信号上肯定只有AC coup,所以结果会不怎么好看,损耗太严重。
扫描频率设置为1GHz~5GHz,设置差分S参数公式,提取差分回损SDD11,差分插损SDD12,TDR阻抗,史密斯圆图结果。
从Smith圆图上增加2个mark点,可以看出在1GHz时,阻抗约为超出100较多;在5GHz,阻抗低于100较多,且实部阻抗一直不在Zo圆圈附近,在实部和虚部高低之间一直来回震荡。
打开ADS tuning,调节串联LC和并联C的值,发现串联C的值影响几乎忽略不计,故此处不写,串阻R也是,发现对信号的损耗太大。
增大串联L从0.05nH到2.04nH,从史密斯圆图上发现1G~5GHz阻抗几乎在同一个实部圆圈上,由于阻抗匹配较好,所以SDD11回损几乎保持不变,TDR曲线几乎没变,但插损损失变得更加严重。
继续增大L到5.025nH,从史密斯圆图上看,较低频的1GHz阻抗从0.05nH时的实部1.457降到0.503,阻抗变小了很多;5GHz反而相反。插损更加严重,接收端能接受到的功率在2GHz下几乎无法满足了。
总结得出,串联L对特性阻抗的调试没有线性规律,还是取决于板子上信号频率,且L越大,插损越大,不宜采取此方法。
将并联电容从0.1nF减小为0.001nF,发现1GHz阻抗实部从1.45降为1.234,5GHz实部从0.68减为0.676,史密斯圆圈变小,越来越靠近Zo,所以回损插损整体都变小。
将并联电容从0.001nF增到为10nF,发现1GHz阻抗实部从1.234升为1.442,5GHz实部从0.676降为0.606,史密斯圆圈变大,所以回损插损整体都变大,由于5GHz阻抗变化非线性,故并联电容无法线性调节阻抗。
将并联电容从10nF增到为100nF,发现1GHz阻抗实部虚部均几乎没有变化,不仅如此其他参数也没有变化,故可见并联C并不能一直影响特性阻抗,它有一个范围。
综上,搞了半天,高速差分阻抗调试必须搭配频率,没有一定的规律可寻,而结合最开始说的公式,线宽线距过孔参考层都会影响到阻抗,所以还是安心在gerber前把阻抗控制好,注意review stackup和layout,否则万劫不复准备走人啊~
1、在ADS仿真中,优化元器件的参数,得到电阻,电感,电容的一系列值,随便举个例子,比如3.22,4.等值,但是在实际中不一定能找到这些参数对应的原件,那我们在仿真时候该怎么办,或者说具体做电路板时候该如何处理?
仿真设计属于纯理论(当然是从实践中得到的理论)范畴,提供的原件参数具有重要的指导作用,因此,选择原件时是必须参考的,但考虑到实际电路搭建及原件参数的离散性,也就不必太苛求了,比如3.22可用3.0或3.3标称值代换,4.可用4.3或4.7代换等…………
2、在ADS中做混频器仿真的时候,用的只是二极管或者三极管的模型,怎么根据参数选择实际的二极管或者三极管使之满足要求?做混频器时候一般选用那种类型的二极管或者三极管,最好是能说几种常用的型。
射频电路的最大特点是功耗低、频率高、布线讲究,因此必须选用射频器件。射频三极管的耗散功率一般不大,但特征频率必须满足要求,以实际电路的功率、频率选择器件参数,宜高不宜低,否则,很难达到设计要求。至于具体型请上网查询,最好在本区内购器件,拿到器件后不要急于焊接到电路上,最好先进行测试,没有测试条件时,看看能否通过搭接方式在具体电路上,一旦焊接,商是不能给你挑换器件的。
1、电容种类的了解
对电容种类的大致了解,在选择电容时有助于对电容种类的快速筛选。
电容种类较多,按封装分有贴片电容、插件电容,按介质分有陶瓷电容,钽电容,电解电容、云母电容、薄膜电容等,按结构形势分,有固定电容、半固定电容、可变电容。
电容种类的繁多,容易让人陷入选择困难症,但不用忧虑,在开关电源中,我们使用最多的就是陶瓷电容,电解电容和钽电容,那么我们今天将要了解的是电容的性能参数。
2、电容关键参数的认识
了解电容的内在关键参数,才能快速选型,可靠使用,所有的电容的关键参数都是一样的,包括电容容值、电容的耐压值、电容的ESR、电容容值精度、电容允许的工作温度范围。
3、开关电源中电容的选型要了解电容本身特性
在开关电源设计中,使用频率最高的电容是陶瓷电容、电解电容、钽电容,需要了解它们的特性差异才能快速的进行选择。
陶瓷电容容值较小,高频特性好,工作温度范围较广,ESR较电解电容小,体积小,没有极性;
电解电容容值可以做大,但工作温度范围较窄,ESR较大,有极性;
钽电容ESR最小,容值可比陶瓷电容大一些,有极性,安规性能差,容易起火。
了解了以上三种电容的特性,在使用它们的时候就可以游刃有余。
4、 开关电源中电容的选型还要了解使用环境
电容的使用环境还分电路内部环境和电路外部环境,电路内部环境包括频率、电压值、电流值、电容在电路中的主要作用等;根据电路频率可以确定电容种类;根据电压值可以确定选型电容的耐压值;在电路中的主要作用可以用来参考选型电容的容值等;
根据电路外部使用环境对电容进行选型,产品工作的环境温度,安规要求等,都可以用来缩小电容选择范围。
电容的选用技巧无非就是了解常用的几种电容特性以及电容在电路中的应用环境、产品使用环境特性。
射频放大器可分为高增益放大器、低噪声放大器、中-高功率放大器。放大器电路的核心是微波晶体管。
一、proteus中极性电容根据铝电解电容、滤波电容、钽电容、瓷片电容的特性进行选择。
1、铝电解电容其主要的组成部分就是铝箔和电解液。密封壳不是完全的密封,电解液会容易干涸,寿命有限。
2、滤波电容的容量较大,必须使用电解电容,一般用于前置放大器,其容量越大音质越好。
3、钽电容水位电解质为固体,所以不存在电解液干涸的问题,寿命会有所提高,容量温度特性比较稳定。
4、瓷片电容在实际电路中使用最多的电容,其结构比较简单,就是把瓷片交替叠在一起烧结而成。体积小成本低,使用广泛。
扩展资料:
1、Proteus可提供的仿真元器件资源、仿真数字和模拟、交流和直流等数千种元器件,有30多个元件库。
2、Proteus可提供的仿真仪表资源:示波器、逻辑分析仪、虚拟终端、SPI调试器、I2C调试器、信号发生器、模式发生器、交直流电压表、交直流电流表。理论上同一种仪器可以在一个电路中随意的调用。
3、除了现实存在的仪器外,Proteus还提供了一个图形显示功能,可以将线路上变化的信号,以图形的方式实时地显示出来,其作用与示波器相似,但功能更多。这些虚拟仪器仪表具有理想的参数指标,例如极高的输入阻抗、极低的输出阻抗。
参考资料:百度百科-proteus
参考资料:百度百科-电容