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透射电子显微镜选区电子衍射分析方法

周敏

透射电子显微镜选区电子衍射分析方法基本信息

外文名称 Method of Selected Area Electron Diffraction for Transmission Electron Microscopes 书名 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
作者 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 出版日期 2003年4月1日
语种 简体中文 ISBN 155066119336
出版社 中国标准出版社 页数 12页
开本 16 品牌 北京劲松建达科技图书有限公司

透射电子显微镜选区电子衍射分析方法图书目录

前言

1

2原理

3仪器设备

4试样

5参照样品

6试验方法

6.1仪器准备

6.2选区电子衍射谱的获得

6.3衍射常数Lλ的测定

7衍射谱的测量与计算

附录A(规范性附录)纯与纯晶面间距表

附录B(规范性附录)单晶体的标准衍射谱

B.1面心立方晶体的低指数晶带衍射谱

B.2体心立方晶体的低指数晶带衍射谱

B.3密排六方晶体的低指数晶带衍射谱

参考文献

透射电子显微镜选区电子衍射分析方法造价信息

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透射电子显微镜选区电子衍射分析方法内容简介

《透射电子显微镜选区电子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》的附录A和附录B为规范性附录。本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。本标准由北京科技大学材料物理与化学系、北京有色金属研究院测试所起草。本标准主要起草人:柳得橹、刘安生。

透射电子显微镜选区电子衍射分析方法常见问题

电子显微镜除了包括亚显微镜还包括什么?

电子显微镜的分类 1、透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的,厚度为100~2000 Å的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似,只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来,TE...

电子显微镜成像原理

电子显微镜是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代,透射...

电子显微镜的工作原理是什么?

顾名思义,所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲,形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象,所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”,从而开...

简述电子显微镜的工作原理,它在高聚物研究中有哪些广泛的用途?分别予以论述。

电子显微镜(electron microsocope)简称电镜,是以电子束为照明源,通过电子流对样品的透射以及电磁透镜的多级放大后的荧光屏上成像的大型精密仪器。 电子与物质相互作用会产生透射电子, 弹...

显微镜反光镜的使用方法是什么

反光镜:装在镜座上面,可向任意方向转动,它有平、凹两面,其作用是将光源光线反射到聚光器上,再经通光孔照明标本,凹面镜聚光作用强,适于光线较弱的时候使用,平面镜聚光作用弱,适于光线较强时使用。 &nbs...

场发射透射电子显微镜概述

2.利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析,因而特别实用于普通透射电镜难以分析的微细析出相,界面和畴等极小区域内成分、结构的研究。 3.利用所配置的GIF系统不但可分析物质的组成元素而且可分析组成元素的价态。

仪器类别: 03040701 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /透射式电子显微镜

指标信息: 具有高相干性、高亮度的场发射枪 最大倾转角:X=±35°,Y=±30° 加速电压:200kV、160kV、100kV、80kV 点分辨率:0.23nm EDS元素范围:B5~U92 晶格分辨率:0.102nm EDS能量分辨率:138eV

附件信息: 1.Gatan公司的GIF系统 4.普通单、双倾台 2.link公司的EDS系统(超薄窗) 5.单、双倾台 3.日本电子株式会社的STEM系统 ,

扫描式透射电子显微镜简介

​扫描式透射电子显微镜(scanning transmission electron microscope)

使用高亮度的冷电子光源,汇聚成极细的电子探针后对样品进行扫描,然后收集穿过样品的电子,同时在样品正方装有电子能量分析器。

这种电镜既能观察较厚、不染色的生物样品,又可分析样品各部分的元素组成。

这种电镜所需的真空度极高,电子技术相当复杂。

电子显微镜种类

电子显微镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。

透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构;扫描式电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌,也能与X射线衍射仪或电子能谱仪相结合,构成电子微探针,用于物质成分分析;发射式电子显微镜用于自发射电子表面的研究。

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