| 中文名称 | 原子力显微镜探针 | 外文名称 | atomic force microscope |
|---|---|---|---|
| 主要生产厂家 | 德国，瑞士，保加利亚，美国 | 属 于 | 高科技仪器的耗材 |
| 缩 写 | AFM | 模 式 | 接触模式和轻敲模式等多种模式 |
| 研发成功 | 1985年 | ||
| 市场价 | 信息价 | 询价 |
原子力显微镜的原理及其应用
原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用...
显微镜价钱
一般实验室用的几百到几万都有。一分钱一分货。
显微镜的价格?
金相显微镜这个要用到金相显微镜，价格在4500元到300000元左右，具体是要看您需要什么样的配置！
显微镜的价格？
这款显微镜在显微镜行业中叫做示教显微镜，除单目观察外可外接摄像装置接电脑观察图像拍照片等。看你这款显微镜应该是中低端的，采用3只物镜，载物台也不是中高档显微镜所采用的双层平台，只看出可以左右移动标本片...
电子显微镜除了包括亚显微镜还包括什么?
电子显微镜的分类 1、透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000 Å的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来，TE...
电化学原子力显微镜(ECAFM)是将接触式的原子力显微镜用于电解质溶液研究电极的表面形貌，其力的作用原理与大气中的AFM相同。
| 书名:基于原子力显微镜的纳米机械加工与检测技术 | |
| 作者: 董申，孙涛，闫永达 | 责编:田 秋 |
| I S B N:978-7-5603-3861-3 | 定价:68.00元 |
| 出版日期:2012.12 | 开本:16 |
| 所属丛书: | 页数:300 |
| 图书分类:F.航天科学工程与自动控制类 | 中图分类:航空、航天 |
基于原子力显微镜(AFM)的纳米机械加工与检测技术是近年来飞速发展的一个研究领域。本书主要把作者课题组近年来的相关研究工作做了一个阶段性的归纳和总结，内容包括:纳米机械加工表面的微观形貌检测方法;纳米机械加工表层形成机理;基于AFM的纳米机械加工技术;基于AFM的工程应用。
本书对从事纳米加工技术、纳米检测技术以及超精密加工工艺等的研究人员有重要的参考价值，同时也可作为机械类研究生的参考书。
对于扫形貌用的半径只有几纳米的探针，只能用TEM测。对于几百纳米甚至微米的探针，用SEM。这些都是先照，再根据比例估算。据说比较准的是用探针扫描碳纳米管，计算碳管宽度变化来反推探针半径。也有用极精密的探针在大探针上扫形貌直接测量大探针半径。原子力显微镜推荐Park原子力显微镜的Park FX40，该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得最敏锐、最清晰、最高分辨率的扫描图像。
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原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。下面，以激光检测原子力显微镜为例，来详细说明其工作原理。
如图所示，二极管激光器发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检测光斑位置的变化，就能获得被测样品表面形貌的信息。
在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米（10e-9米）量级，距离太大不能获得样品表面的信息，距离太小会损伤探针和被测样品，反馈回路(Feedback）的作用就是在工作过程中，由探针得到探针-样品相互作用的强度，来改变加在样品扫描器垂直方向的电压，从而使样品伸缩，调节探针和被测样品间的距离，反过来控制探针-样品相互作用的强度，实现反馈控制。因此，反馈控制是本系统的核心工作机制。本系统采用数字反馈控制回路，用户在控制软件的参数工具栏通过以参考电流、积分增益和比例增益几个参数的设置来对该反馈回路的特性进行控制。
纳米材料科学的发展和纳米制备技术的进步，将需要更新的测试技术和表征手段，以评价纳米粒子的粒径、形貌、分散和团聚状况。原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。选择原子力显微镜推荐Park NX-Hybrid WLI。Park NX-Hybrid WLI是有史以来第一款具有内置WLI轮廓仪的AFM，用于半导体和相关制造质量保证。例如半导体前端、后端到高级封装的过程控制，以及研发计量。它适用于那些需要在大面积上进行高吞吐量测量的设备，这些设备可以缩小到具有亚纳米分辨率和超高精度的纳米级区域。
NX-Hybrid WLI 功能：
1、Park WLI系统
Park WLI支持WLI和PSI模式（PSI模式由电动过滤器变换器 支持）可用物镜放大倍数：25X 、10X、20X、50X、100X；两个物镜可由电动线性换镜器自动更换。
2、WLI光学干涉测量
扫描 Mirau 物镜高度时，由干涉引起的光强变化可以计算每个像素处的样品表面高度；白光干涉测量 (WLI) 和相移干涉测量 (PSI) 是两种常用的表面表征技术。
想要了解更多关于原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。park原子力显微镜Park NX20用于故障分析和大型样品研究的领先纳米计量工具，作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20，这款全球最精密的大型样品原子力显微镜，凭借着出色的数据准确性，在半导体和超平样品行业中大受赞扬。
