| 中文名称 | 场发射环境扫描电子显微镜 | 指标信息 | 场发射环境扫描电子显微镜分辨率 |
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| 仪器类别 | 台式扫描电子显微镜 | ||
0304070202 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /台式扫描电子显微镜
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冷却样品台 0到10℃时，对样品直到100%的不同相对温度下的状态进行观察和分析。最低可达到-20℃，精确度可到0.1℃ 加热样品台 温度控制范围=室温-1000℃;加热速度=1℃/min~300℃/min
可对各种各样的样品进行静态和动态观察和分析，在一定压力的水蒸气条件下进行各种物质的表面形貌分析和微区成分分析，避免样品在真空条件下发生失水而发生表面形貌的变化，特别对非导体物质可以不需要进行喷镀导电膜即可以进行表面形貌和微区成分分析，广泛应用于各种生物活体、含水物质、非导体材料等物质的表面形貌分析。
电子显微镜除了包括亚显微镜还包括什么?
电子显微镜的分类 1、透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000 Å的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来，TE...
电子显微镜成像原理
电子显微镜是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代，透射...
电子显微镜的工作原理是什么?
顾名思义，所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲，形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象，所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”，从而开...
简述电子显微镜的工作原理，它在高聚物研究中有哪些广泛的用途？分别予以论述。
电子显微镜（electron microsocope）简称电镜，是以电子束为照明源，通过电子流对样品的透射以及电磁透镜的多级放大后的荧光屏上成像的大型精密仪器。 电子与物质相互作用会产生透射电子, 弹...
显微镜价钱
一般实验室用的几百到几万都有。一分钱一分货。
1、场发射环境扫描电子显微镜分辨率:二次电子像高真空模式:30KV时<2.0nm 低真空模式:3KV时<3.5nm ESEM环境真空模式:30KV时<2.0nm 罗宾逊探头，背散射电子像放大倍数 12X-1,000,000X 加速电压200V-30KV 样品室真空<6×10-4-4000Pa 三种真空模式:高真空、低真空和ESEM环境模式 2、X射线能谱仪分辨率:138eV 分析范围:B5-U92
一、环境扫描电镜的特点 普通扫描电镜的样品室和镜筒内均为高真空(约为10ˆ-6个大气压)，只能检验导电导热或经导电处理的干燥固体样品。低真空扫描电镜可直接检验非导电导热样品，无需进行处理，但是低真空状态下只能获得背散射电子像。 环境扫描电镜除具有以上两种电镜的所有功能外，还具有以下几个主要特点: 1.样品室内的气压可大于水在常温下的饱和蒸汽压 2.环境状态下可对二次电子成像 3.观察样品的溶解、凝固、结晶等相变动态过程(在-20℃~+20℃范围)
二、环境扫描电镜应用 环境扫描电镜可以对各种固体和液体样品进行形态观察和元素(C-U)定性定量分析，对部分溶液进行相变过程观察。对于生物样品、含水样品、含油样品，既不需要脱水，也不必进行导电处理，可在自然的状态下直接观察二次电子图像并分析元素成分。
0304070201 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /扫描式电子显微镜
透射·扫描电子显微镜、ransmissian-acanaing e:ectr}n ms-。r}ascc3pe; }1'SEM电子显微镜的种。由电子枪产生的高速电子束，投射到待测试样_巨，然后逐点扫描，收集电子束与试样表面相互作用产生的电子信息，经放人成像的一种显微镜。T}r:M较一般透射电户显微镜简单，可避免物链的色差问题，适用于原试样的观察。
当分辨率在纳米和原子范围时，扫描电镜（sem）和原子力电镜（afm）是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术，各有优劣。它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。sem需要在真空环境中进行，而afm是在空气中或液体环境中操作。因此如果是要测定液体中细微颗粒的形态，afm更为适合一些。通常afm扫描含水的试样是把它和扫描探针放在液体中进行的，因为afm不是以导电性为基础，所以图像和扫描模件在液体中都不会受干扰。
只有场发射环境扫描电镜可以， 其他任何形式的扫描电镜都会在抽真空的过程中，失掉绝大部分水分。
有关环境扫描电镜的科普，查看这个视频，汽化液化的循环过程，可以观察到水滴的形状。这就是环境扫描电镜的能力： >
TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜,场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用
xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的。
TEM:
透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为01～02nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于02μm、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。 TEM是德国科学家Ruskahe和Knoll在前人Garbor和Busch的基础上于1932年发明的。
其他的建议楼主查看文献啊，文献上讲解都是比较详细的，百度知道字数有限，只能给你粘贴这么多了
