史密斯aes功能省电多少钱吗
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原子发射光谱法(AES),是利用物质在热激发或电激发下,每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成,而进行元素的定性与定量分析的方法.
原子发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法.
原子发射光谱法包括了三个主要的过程,即:
由光源提供能量使样品蒸发、形成气态原子、并进一步使气态原子激发而
产生光辐射;
将光源发出的复合光经单色器分解成按波长顺序排列的谱线,形成光谱;
用检测器检测光谱中谱线的波长和强度.
由于待测元素原子的能级结构不同,因此发射谱线的特征不同,据此可对样品进行定性分析;而根据待测元素原子的浓度不同,因此发射强度不同,可实现元素的定量测定.
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内标法可以克服样品中一些基质的干扰,使测定更准确
俄歇电子能谱(AES) 定义简介
俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,简称AES),是一种表面科学和材料科学的分析技术。高能电子束可激发原子的外层电子,使其跳至低能阶并放出一定的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子,这一连串事件称为俄歇效应,而逃脱出来的电子称为俄歇电子。俄歇电子能谱可被应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。俄歇电子来自浅层表面,仅带出极表面的讯息,并且其相应元素对应能谱的能量位置固定。
俄歇电子能谱(AES)应用简介
1.分析固体材料表面纳米深度的元素组成,可以对纳米级形貌进行观察(SAM)和成分表征
2.分析均匀原材料(粉末颗粒,片材等)的表面组成,表界面特定元素定性半定量测试,材料表面缺陷如污染,腐蚀,掺杂,吸附、杂质解析等
3.结合离子溅射枪进行深度剖析,表征金属钝化层,掺杂深度,以及纳米级多层膜层结构等。
AES关键参数限值
-分析元素范围:Li ~ U
-元素检出限:1 ~ 0.1 atomic %
-信息深度:4-50 Å
*注:待测样品需良好的导电性!
AES案例介绍一
金属片材表面元素组成分析:
图2 为金属片材局部,通过 AES 0~2000eV段的扫描处理后得出制品表面含有O,C, Fe, Cr,Ni, Mo元素,其谱图和原子相对含量百分比如右下 图3 所示。
所得结果中C元素 24.1%,满足该客户 30%的预期值。
AES案例介绍二
金属零件表面钝化层剖析:
图4 为金属零件局部,通过预设元素和离子溅射枪相对溅射速率,进而采集处理后,得出零件由表及里C, O,Cr,Fe, Ni元素含量不同深度分布变化曲线图,右下 图6 所示。
所得结果分析可得金属氧化层的相对厚度约4.5nm。
AES案例介绍三
粉末颗粒制品Mapping:
下 图7 为粉末颗粒SEM放大观察图,通过预设已知元素O、S、Ag, 进行一定时长的采集,处理后得出相关元素面分部图,如右下 图8 所示。彩图中亮度越高表示该元素含量越高。所得结果能鲜明表现该粉末制品元素分布。
一.原子发射光谱仪定义:
发射光谱分析法是根据待测物质的气态原子被激发时所发射的特征线状光谱的波长及其强度来测定物质的元素组成和含量的一种分析技术。
二.原子发射光谱(AES) 结构及特点:
1.电感耦合等离子发射光谱仪(ICP)结构说明:
管外磁力线成椭圆闭合回路。一旦管内气体开始电离(如用点火器),产生电场,电子和离子则受到电场加速,同时和气体分子﹑原子等碰撞,使更多气体电离,电子和离子各在相反方向上在炬管内沿闭合回路流动,产生涡流。在管口形成火炬状稳定电浆。 电浆外观像火焰﹐但它不是化学燃烧火焰﹐而是气体放电。
2.直读火花原子发射光谱仪结构说明:
直读火花原子发射光谱仪之光学系统及检测系统结构及原理与电感耦合等离子发射光谱仪基本相同。目前检测系统主要有PMT﹑CCD及CID几种类型。下面会主要介绍其工作原理。
三.直读火花原子发射光谱仪工作原理:
1.火花产生的原理:
电源电压经过可调电阻后进入升压变压器的初级线圈,使初级线圈上产生10000V以上的高电压,并向电容器充电。当电容器两极间的电压升高到分析间隙的击穿电压时,储存在电容器中的电能立即向分析间隙放电,产生电火花。
2.火花激发的原理:
火花激发原理以图文说明。火花产生的光分为可见光与UV光,以两个不同光路分流。
(1)可见光光路系统:
首先进入光栅系统,然后以波长不同进行分光,最后光能转化为电信号输出,以信号强弱来分析元素含量。
(2)紫外光(UV)光路系统:
UV光路系统主要测试元素S﹑P﹑Sn﹑B﹑Se等。 避免空气及水分吸收紫外光强,而降低透光率,灵敏度。UV光路系统一般有两种系统,一种是真空系统,另一种为 氮气或氩气冲洗光学系统。相比较而言, 真空系统中真空泵油扩散至光路系统,会降低仪器灵敏度,可靠性相对差。
(3)光谱检测系统:
光谱检测系统主要分为光电倍增管检测系统(PMT),电感耦合检测系统(CCD)两种。这两种检测系统各有优缺点。PMT检测系统准确度高,但实际检测应用过程较为复杂,而CCD精度较低,操作简单快捷。
(1)光电倍增管检测系统(PMT):
利用光电方法直接测定谱线强度。光电直读光谱仪的检测组件主要是光电倍增管,它既可光电转换又可电流放大。每一个光电倍增管连接一个积分电容器,由光电倍增管输出的电流向电容器充电,进行积分,通过测量积分电容器上的电压来测定谱线强度I。光电流i与谱线强度I成正比。
(2)电感耦合检测系统(CCD):